[发明专利]一种深沟槽刻蚀方法在审

专利信息
申请号: 202010305632.4 申请日: 2020-04-17
公开(公告)号: CN111584357A 公开(公告)日: 2020-08-25
发明(设计)人: 李明;刁宇飞;姚雪霞 申请(专利权)人: 深圳方正微电子有限公司
主分类号: H01L21/3065 分类号: H01L21/3065;H01L21/02
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 谢曲曲
地址: 518172 广东省深圳市龙*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种深沟槽刻蚀方法,包括:提供衬底;在衬底上形成图形化掩膜层,所述图形化掩膜层内具有开口图形,所述开口图形定义出深沟槽的形状及位置;使用包含NF3的刻蚀气体对所述衬底进行刻蚀,以于所述衬底内形成深沟槽;其中,刻蚀压力大于等于90mT和/或所述刻蚀气体中所述NF3的流量大于等于10SCCM。优化RIE机台传统刻蚀步骤中的第三步,调试刻蚀菜单,调节刻蚀压力或/和NF3气体流量,有效增加沟槽深度和底部沟槽宽度;对衬底分多步刻蚀,刻蚀深度超过20um,同时保持侧壁形貌满足工艺要求。
搜索关键词: 一种 深沟 刻蚀 方法
【主权项】:
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