[发明专利]一种基于数字孪生的微电子产品跌落冲击可靠性评估方法有效
| 申请号： | 202010317445.8 | 申请日： | 2020-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN111537173B | 公开（公告）日： | 2021-08-03 |
| 发明（设计）人： | 刘胜;陈志文;冯铮;刘俐 | 申请（专利权）人： | 武汉大学 |
| 主分类号： | G01M7/08 | 分类号： | G01M7/08;G06F30/23;G06F119/14;G06F111/10 |
| 代理公司： | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人： | 胡琦旖 |
| 地址： | 430072 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明属于微电子产品评估技术领域，公开了一种基于数字孪生的微电子产品跌落冲击可靠性评估方法，包括：在物体实体跌落冲击试验机的测试点处设置传感器，采集微电子产品跌落的物理测试数据；构建联合仿真数字模型，采集联合仿真数字模型的虚拟测试数据；将物理测试数据与虚拟测试数据进行融合，对融合信息进行特征提取，构建孪生数据库；对孪生数据库的数字孪生模型的可信度进行判断，采用数字孪生模型对微电子产品的抗跌落冲击能力进行评估。本发明解决了现有技术中无法对微电子产品跌落冲击进行准确评估的问题，并能够有效地对微电子产品的抗冲击能力进行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 数字 孪生 微电子 产品 跌落 冲击 可靠性 评估 方法 | ||
【主权项】：
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