[发明专利]阴影区域检测的方法和装置在审
| 申请号： | 202010322714.X | 申请日： | 2020-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN113628153A | 公开（公告）日： | 2021-11-09 |
| 发明（设计）人： | 沈蕾;刘伟峰;万保成 | 申请（专利权）人： | 北京京东乾石科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06K9/62 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 张一军;张效荣 |
| 地址： | 100176 北京市北京经济技术开*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了阴影区域检测的方法和装置，涉及计算机技术领域。该方法的一具体实施方式包括：依据预设图像特征将待检测区域的场景图像划分为多个子区域，得到多个子区域图像；从所述待检测区域的模板图像中获取每个所述子区域的子区域模板图像；根据每个所述子区域的子区域图像与子区域模板图像的预设图像特征确定每个所述子区域对应的特征相似度；判断所述特征相似度是否满足预设相似度条件；若是，则确定所述子区域中存在阴影；否则，确定所述子区域中不存在阴影。该实施方式能够提高阴影检测结果的准确性，易于扩展且鲁棒性较好。 | ||
| 搜索关键词： | 阴影 区域 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
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