[发明专利]检测装置以及检测方法在审
| 申请号： | 202010323020.8 | 申请日： | 2020-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN111537858A | 公开（公告）日： | 2020-08-14 |
| 发明（设计）人： | 何波 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01M11/02 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 李新干 |
| 地址： | 518132 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了检测装置以及检测方法，用于对多个微型发光器件进行电致发光检测，微型发光器件包括设于相同侧的第一电极和第二电极，检测装置包括：基板、设于基板上的多个检测部、信号产生器和位于多个微型发光器件的至少一侧的光学器件，检测部包括设于相同侧第一检测电极和第二检测电极，每一检测部的第一检测电极、第二检测电极分别和对应的微型发光器件的第一电极、第二电极电性连接，信号产生器向每一检测部的第一检测电极和第二检测电极提供相异的电信号，使得多个微型发光器件发光，光学器件根据多个微型发光器件的发光情况获取相应的光学参数；该方案可以快速且准确地对多个微型发光器件进行电致发光检测。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
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