[发明专利]设备寿命量化方法、装置、计算机设备和存储介质有效

专利信息
申请号: 202010326972.5 申请日: 2020-04-23
公开(公告)号: CN111680389B 公开(公告)日: 2023-09-01
发明(设计)人: 汪凯蔚;沈峥嵘;何宗科;胡湘洪;吴栋 申请(专利权)人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F119/02;G06F119/04;G06F111/08;G06F115/04
代理公司: 华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 卢晓霞
地址: 511300 广东省*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本申请涉及一种设备寿命量化方法、装置、计算机设备和存储介质。该方法包括:计算机设备分别对设备中各器件的热疲劳失效时刻数据和振动疲劳失效时刻数据进行累积损伤分析,对各器件的累积后的热疲劳失效时刻数据和累积后的振动疲劳失效时刻数据进行故障分布拟合,得到各器件的热疲劳寿命分布函数和振动疲劳寿命分布函数;再对各器件的热疲劳寿命分布函数和振动疲劳寿命分布函数进行故障融合,得到各器件的寿命概率密度函数;最后对设备中所有器件的寿命概率密度函数进行故障融合,得到设备的寿命概率密度函数。本方法中,计算机设备可以根据设备的寿命概率密度函数获取设备的寿命量化结果,从而确定该设备的互连失效分布情况以及可靠性。
搜索关键词: 设备 寿命 量化 方法 装置 计算机 存储 介质
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)),未经中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010326972.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top