[发明专利]一种红外测温仪外置温度参考源校正系统及方法在审

专利信息
申请号: 202010328303.1 申请日: 2020-04-23
公开(公告)号: CN111337146A 公开(公告)日: 2020-06-26
发明(设计)人: 祁海军;刘智嘉;赵金博;高旭辉;张浩;吴金浩 申请(专利权)人: 北京波谱华光科技有限公司
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00
代理公司: 天津博润嘉泓知识产权代理事务所(普通合伙) 12232 代理人: 李钊博
地址: 100015 北京市朝*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种红外测温仪外置温度参考源校正系统及方法,其系统包括位移装置和内置有温度传感器的金属挡片;位移装置用于带动金属挡片移动至红外测温仪的镜头前遮蔽镜头,并在镜头前停留预设时间后带动金属挡片从镜头前移除;金属挡片用于作为外部温度测量参考源,并通过内置的温度传感器测量其内部温度;红外测温仪用于获取温度传感器输出的内部温度,并根据内部温度对基准温度重新进行标定。本发明不仅可以周期性对红外测温仪进行温度校正,同时可以实现红外测温仪在不使用外置黑体设备的前提下仍可对出现的温度漂移现象进行温度校正,避免了购买黑体的较大成本以及布置黑体对使用空间的较高需求,并且能够节省整体测温系统的工作能耗。
搜索关键词: 一种 红外 测温 外置 温度 参考 校正 系统 方法
【主权项】:
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