[发明专利]一种测试钝化接触结构的接触电阻率的方法在审
| 申请号： | 202010329717.6 | 申请日： | 2020-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN111510068A | 公开（公告）日： | 2020-08-07 |
| 发明（设计）人： | 包杰;陈程;黄策;乔振聪;刘志锋;陈嘉;林建伟 | 申请（专利权）人： | 泰州中来光电科技有限公司 |
| 主分类号： | H02S50/10 | 分类号： | H02S50/10;G01R27/08;G01R31/389 |
| 代理公司： | 北京金之桥知识产权代理有限公司 11137 | 代理人： | 李托弟 |
| 地址： | 225500 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测试钝化接触结构的接触电阻率的方法，包括：(1)、在电池片上直径不同的圆形点状电极周围进行开槽处理，形成内径不同的圆形凹槽结构；(2)、测试内径不同的圆形凹槽结构对应的内径；(3)、测试直径不同的圆形点状电极与背面金属电极之间对应的总电阻值；(4)、采集不同的圆形凹槽结构对应的内径数据、以及直径不同的圆形点状电极与背面金属电极之间对应的总电阻值数据，绘制散点图，并运用两端接触的电流传输模型对散点进行拟合，计算接触电阻率。本发明的圆形凹槽结构能够阻断电流在钝化接触结构中的横向传输，使电流的实际传输路径与理论路径更加吻合，可以显著提高拟合决定系数和测试的精确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 钝化 接触 结构 电阻率 方法 | ||
【主权项】：
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