[发明专利]光学位移计在审
申请号: | 202010329749.6 | 申请日: | 2020-04-24 |
公开(公告)号: | CN111854630A | 公开(公告)日: | 2020-10-30 |
发明(设计)人: | 冬野明;土田佳孝 | 申请(专利权)人: | 株式会社基恩士 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24;G01B11/02;G01S17/48;G01S7/48 |
代理公司: | 北京格罗巴尔知识产权代理事务所(普通合伙) 11406 | 代理人: | 孙德崇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及光学位移计。目的是在抑制U方向上的测量精度的下降的同时加速V方向上的读取。提供用于基于三角测量原理来测量沿Y方向输送的测量对象的X‑Z截面的轮廓的光切法的光学位移计。光源利用在X方向上具有宽度的狭缝光照射测量对象。图像传感器接收来自测量对象的反射光,具有沿与X方向相对应的U方向和与Z方向相对应的V方向二维排列的多个像素,并输出多个像素对反射光的光接收量。检测单元针对沿U方向排列的多个像素列各自将作为光接收量的峰的V方向上的像素的位置检测为峰位置。生成单元根据U方向上的多个像素列的各位置和V方向上的峰位置生成X‑Z截面的轮廓。图像传感器的V方向上的分辨率低于图像传感器的U方向上的分辨率。 | ||
搜索关键词: | 光学 位移 | ||
【主权项】:
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