[发明专利]一种高精度测试膜电极组件厚度的装置及方法在审
| 申请号： | 202010331812.X | 申请日： | 2020-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN111397562A | 公开（公告）日： | 2020-07-10 |
| 发明（设计）人： | 王天喜;刘亚伟;司永成 | 申请（专利权）人： | 上海亿氢科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/08 | 分类号： | G01B21/08 |
| 代理公司： | 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 | 代理人： | 杨军 |
| 地址： | 201401 上海市奉*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种高精度测试膜电极组件厚度的装置及方法，该装置包括上端头、下端头、压力传感器、位移传感器、气缸等，下端头嵌装于台面中但不与台面接触，下端头的上表面作为与膜电极组件的下接触面，下端头的下表面固定在压力传感器上，上端头上连接有位移传感器，位移传感器的探头与上端头的上表面接触连接，位移传感器的探杆通过支架固定在底座上，上端头的上端与导杆相连接，导杆另一端与气缸的活塞端相连，气缸的进气口、排气口分别连接电磁阀，电磁阀的电路控制端连接控制电路板，控制电路板分别电连接压力传感器、位移传感器；本发明测量精度高，测量速度快，对压力的控制精度和一致性大大提高，减小了因压力带来的误差。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高精度 测试 电极 组件 厚度 装置 方法 | ||
【主权项】：
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