[发明专利]一种成虚像光学系统的成像质量检测装置及方法有效
| 申请号： | 202010334514.6 | 申请日： | 2020-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN111366338B | 公开（公告）日： | 2021-11-19 |
| 发明（设计）人： | 马冬林;莫言;朱正波;许汪洋 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 李智 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种成虚像光学系统的成像质量检测装置及方法，属于光学领域，所述装置包括：显示屏，待检测成虚像系统，平板透镜，接收装置；所述显示屏上的光源依次经过所述待检测成虚像系统、所述平板透镜和所述接收装置；所述显示屏与所述平板透镜之间的夹角α为30°～45°，所述平板透镜与所述接收装置之间的夹角β为30°～45°，且满足α＝β；所述显示屏和所述待检测成虚像系统用于形成虚像；所述平板透镜用于将所述虚像转化成实像；所述接收装置用于接收所述实像。通过本发明能够对成虚像光学系统的成像质量进行有效检测，并能够提供相应成像质量的量化标准。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 虚像 光学系统 成像 质量 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
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