[发明专利]一种优化MEEF的光学邻近修正方法有效

专利信息
申请号: 202010336815.2 申请日: 2020-04-26
公开(公告)号: CN111474819B 公开(公告)日: 2023-08-15
发明(设计)人: 胡译丹;陈燕鹏 申请(专利权)人: 上海华力集成电路制造有限公司
主分类号: G03F1/36 分类号: G03F1/36;G03F7/20;G06F30/398
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 戴广志
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种优化MEEF的光学邻近修正方法,将原始版图进行OPC修正,截取OPC修正后MEEF超出阈值的版图部分;对截取的版图部分进行pxOPC修正,得到掩模板图形;根据掩模板图形对相应的原始版图部分进行预先修正处理,得到预处理目标层;将预处理目标层进行基于规则和模型的OPC修正,得到最终符合OPC要求的掩模板图层。本发明中的方法通过将原始图形预先分段移动,能够在基于模型的OPC修正中有效促进引导掩模版图形的分段及移动,通过调整预分段及移动参数,使特殊图形在满足模拟图形与目标图形一致的条件下,得到MEEF优化的掩模版图形。
搜索关键词: 一种 优化 meef 光学 邻近 修正 方法
【主权项】:
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