[发明专利]一种具有高损伤阈值的声光Q开关在审

专利信息
申请号: 202010341776.5 申请日: 2020-04-27
公开(公告)号: CN111370987A 公开(公告)日: 2020-07-03
发明(设计)人: 张泽红;毛世平;蒋世义;谢强 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第二十六研究所
主分类号: H01S3/117 分类号: H01S3/117
代理公司: 重庆辉腾律师事务所 50215 代理人: 王海军
地址: 400060 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明涉及光电子技术领域,涉及一种具有高损伤阈值的声光Q开关,包括底座,所述底座内设置有水冷块,在底座的下部安装有与所述水冷块连通的水嘴,所述水冷块的侧壁上安装有声光介质,所述声光介质上表面设置有焊接层,所述焊接层上安装有换能器,所述换能器的上表面设置有表电极;所述表电极通过匹配网络、温度继电器连接到射频插座;所述声光介质为高纯度融石英或石英晶体,在声光介质的通光面上镀制了短波谱段的减反膜;本发明用高纯度融石英或石英晶体代替氧化碲晶体,能够大幅度提高短波声光Q开关的损伤阈值;采用高纯金或高纯银作为键合层材料能提高声光Q开关承受驱动电功率的能力,提高声光Q开关的衍射效率。
搜索关键词: 一种 具有 损伤 阈值 声光 开关
【主权项】:
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