[发明专利]阵列样品光谱测试系统在审
| 申请号： | 202010343788.1 | 申请日： | 2020-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN113640257A | 公开（公告）日： | 2021-11-12 |
| 发明（设计）人： | 徐小科;刘茜;周真真 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N21/01 |
| 代理公司： | 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261 | 代理人： | 曹芳玲;姚佳雯 |
| 地址： | 200050 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种阵列样品光谱测试系统，包括：供载置阵列样品的样品台；设置于所述样品台上方以对样品进行光学激发的光源单元，所述光源单元具备并列或阵列排布的多个光源，所述多个光源之间的间距与所述阵列样品之间的间距相匹配；设置于所述样品台上方的多个探测器单元，多个探测器单元之间的间距与所述阵列样品之间的间距相匹配，所述探测器单元对准对应的样品时测试得到样品的光谱数据；以及与所述多个探测器单元连接的主控电脑，所述主控电脑记录并显示所述光谱数据。由本发明可以数倍增加光谱测试的效率，此外，多通道同时测试的数据可同时直观的通过软件显示对比，更增加了测试筛选的直观性和效率。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 样品 光谱 测试 系统 | ||
【主权项】：
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