[发明专利]芯片电阻检测装置和芯片器件在审

专利信息
申请号: 202010343792.8 申请日: 2020-04-27
公开(公告)号: CN111366788A 公开(公告)日: 2020-07-03
发明(设计)人: 彭振宇;韩智毅 申请(专利权)人: 广东华芯微特集成电路有限公司
主分类号: G01R27/08 分类号: G01R27/08;G01R31/28
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 陈金普
地址: 528300 广东省佛山市顺德区北滘镇*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种芯片电阻检测装置和芯片器件,该装置包括电流产生电路、电压比较电路和输出转换电路:电流产生电路用于连接外接电阻,产生基准电流;基准电流为被测芯片器件的带隙参考电压与外接电阻的阻值之比。电压比较电路电流输入端连接电流产生电路的电流输出端,用于产生与基准电流对应的测试电压,并输出测试电压与带隙参考电压的比较结果。输出转换电路输入端连接电压比较电路的输出端,用于将比较结果转为数字信号输出至芯片器件的数字电路。通过电流产生电路、电压比较电路和输出转换电路的设计,内部电阻检测过程通过外接电阻产生基准电流,检测过程无需引入芯片器件内部的参考时钟与寄存器电路,达到大幅降低检测功耗的目的。
搜索关键词: 芯片 电阻 检测 装置 器件
【主权项】:
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