[发明专利]基于多次反射和衰减全反射的综合检测方法有效
申请号: | 202010345537.7 | 申请日: | 2020-04-27 |
公开(公告)号: | CN111537454B | 公开(公告)日: | 2023-08-04 |
发明(设计)人: | 谭湖伟;李浩文;罗成;朱厚平;蔡颉;伍李云 | 申请(专利权)人: | 深圳网联光仪科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/31 | 分类号: | G01N21/31;G01N21/359;G01N21/65;G01N21/03;G01N21/01 |
代理公司: | 深圳市壹品专利代理事务所(普通合伙) 44356 | 代理人: | 唐敏;江文鑫 |
地址: | 518118 广东省深圳市坪山区坪*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及检测方法的技术领域,公开了基于多次反射和衰减全反射的综合检测方法,其中有以下步骤:1)、接发器往镜件发射射线,射线经过镜件后,反射入第一反射室,而后再由镜件反射进入第二反射室,射线先后在第一反射室以及第二反射室内多次反射分别经过待检测样品;通过设置第一反射室以及第二反射室,设置了接发器以及固定件,射线在第一反射室多次反射在固或液状的待检测样品上,而且射线在第二反射室内多次反射且通过气状的待检测样品,这样射线被接收后,可以从射线中检测到所检测的待检测样品的物质成分,而又由于射线是多次接触待检测样品,射线接触次数越多,检测的灵敏度越高,在对待检测物质的检测精度上十分灵敏。 | ||
搜索关键词: | 基于 多次 反射 衰减 全反射 综合 检测 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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