[发明专利]存储单元测试方法、装置、存储介质及电子设备有效
| 申请号： | 202010348352.1 | 申请日： | 2020-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN111554344B | 公开（公告）日： | 2022-06-24 |
| 发明（设计）人： | 雷泰;刘冲;李振华 | 申请（专利权）人： | 深圳佰维存储科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 深圳市博锐专利事务所 44275 | 代理人： | 卜科武 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区桃源街道平山社区留仙*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种存储单元测试方法、装置、存储介质及电子设备，该存储单元测试方法包括：获取测试数据；将测试数据按照预设间隔依次写入待测存储单元并对应读取，得到待测数据，对待测数据与测试数据进行一致性比较，得到比较结果；将测试数据按照预设间隔重复执行上述写入、读取和比较步骤，直至待测存储单元上的每一个地址至少被写入过一次；根据所有比较结果输出测试结果。本发明能检测出包括单cell的存储故障和多cell之间的存储故障，以保证存储单元的故障覆盖率；同时无需进行多次的先后升降测试，能有效的降低时间复杂度，有利于提高产能，降低成本，即本发明在保证存储单元的故障覆盖率的同时能减少测试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 单元测试 方法 装置 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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