[发明专利]存储器测试电路、测试系统及测试方法有效
| 申请号： | 202010349085.X | 申请日： | 2020-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN111667877B | 公开（公告）日： | 2023-01-17 |
| 发明（设计）人： | 谢元禄;刘璟;张君宇;霍长兴;呼红阳;张坤;刘明 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京华沛德权律师事务所 11302 | 代理人： | 房德权 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种存储器测试电路、测试系统及测试方法，测试电路包括：主控芯片、被配置处理芯片，被配置处理芯片，用于被上电后从被测存储器加载所需的配置信息，并利用配置信息进行配置后输出预设信息，预设信息能够表征被配置处理芯片是否成功配置所述配置信息；主控芯片，用于根据上位机下发的测试指令，从所述被测存储器内部获取配置信息，并从被配置处理芯片获取预设信息，将配置信息及预设信息反馈给上位机，以使上位机根据所述配置信息及所述预设信息，对所述被测存储器的上电加载功能进行判断，输出判断结果。本发明解决了现有技术中利用目前的测试系统的架构对PROM完成测试后，依然有可能存在加载功能错误的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 测试 电路 系统 方法 | ||
【主权项】：
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