[发明专利]触控模组评估方法及装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202010349886.6 | 申请日： | 2020-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN113568517A | 公开（公告）日： | 2021-10-29 |
| 发明（设计）人： | 柳在健;王新星;孙雪菲;刘丽艳 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/041 | 分类号： | G06F3/041;G06F3/044 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 王辉;阚梓瑄 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开涉及触控技术领域，尤其涉及一种触控模组评估方法及装置、电子设备及存储介质。该触控模组评估方法包括：接收待评估触控模组的单元图，并根据所述待评估触控模组的单元图进行仿真运算，得到所述待评估触控模组的效果图；对所述待评估触控模组的效果图的进行光学评估，以确定所述待评估触控模组的光学评估值；获取所述待评估触控模组的电学参数，并结合所述电学参数以及所述待评估触控模组的单元图确定所述待评估触控模组的电学评估值；基于所述光学评估值以及电学评估值输出对所述待评估触控模组的评估结果。本公开可以缩短触控屏的开发周期以及降低开发成本。 | ||
| 搜索关键词： | 模组 评估 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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