[发明专利]一种聚合物电介质薄膜空间电荷分布测量方法有效
| 申请号： | 202010351989.6 | 申请日： | 2020-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN111505399B | 公开（公告）日： | 2021-11-09 |
| 发明（设计）人： | 郑飞虎;黄陈昱;张冶文 | 申请（专利权）人： | 同济大学 |
| 主分类号： | G01R29/24 | 分类号： | G01R29/24 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 宣慧兰 |
| 地址： | 200092 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及聚合物电介质薄膜领域，尤其涉及一种聚合物电介质薄膜空间电荷分布测量方法，包括以下步骤：对聚合物电介质薄膜的双侧进行金属化处理，施加直流电压；向聚合物电介质薄膜一侧的金属化电极击打脉冲激光，测量产生的响应电流，并构建时域响应电流表达式；结合泊松方程和一维热传导方程，对时域响应电流表达式进行傅里叶变换，得到与空间电荷分布有关的响应电流的频域表达式；对频域表达式进行高频近似，得到近似频域表达式；求解近似频域表达式，得到空间电荷分布。与现有技术相比，提高了数据分析的效率，降低了数据分析对噪声的敏感性，提升了测量结果的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 聚合物 电介质 薄膜 空间电荷 分布 测量方法 | ||
【主权项】：
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