[发明专利]一种基坑水平位移测量方法、系统、装置在审

专利信息
申请号: 202010355427.9 申请日: 2020-04-29
公开(公告)号: CN113513050A 公开(公告)日: 2021-10-19
发明(设计)人: 王作文;杨昆;孟晓平;王梦迪;罗瑾;刘燕平;岳磊;骆阳;游林;李林传;赵影;胡飞龙;吴宇航;刘伯涛;马洋;王清 申请(专利权)人: 西南石油大学
主分类号: E02D33/00 分类号: E02D33/00;E02D17/02
代理公司: 成都熠邦鼎立专利代理有限公司 51263 代理人: 田甜
地址: 610500 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及一种基坑水平位移测量方法、系统、装置,利用光纤在基坑内壁分层设置监测点,从而消除因基准点造成的误差,本方案省去了利用监测基准点作为参考点的方式进行测量和计算,使得测量过程更为简化,同时消除了因监测基准点的位移变化造成的误差,也无需依靠监测基准点进行数据转换,从而进一步节省了计算过程,而是利用光纤直接测量各监测点的倾角,从而保证其数据实时性和准确性,提高了测量精度。
搜索关键词: 一种 基坑 水平 位移 测量方法 系统 装置
【主权项】:
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