[发明专利]一种激光自混合的位移精密测量方法及系统在审

专利信息
申请号: 202010358547.4 申请日: 2020-04-29
公开(公告)号: CN111486793A 公开(公告)日: 2020-08-04
发明(设计)人: 周伦彬;朱均超;周皓;吕林华;马骏 申请(专利权)人: 苏州集成校准检测认证有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01B9/02;G01D5/34
代理公司: 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257 代理人: 王佳丽
地址: 215000 江苏省苏州市工业园*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种激光自混合的位移精密测量方法及系统,该方法包括:激光器发出激光至待测物体上,待测物体发生位移;激光在待测物体上发生反射后沿原路反馈回激光器谐振腔内,发生激光自混合干涉;采集自混合信号,并将光信号转化成电信号;采用EEMD算法对电信号进行去噪;对去噪后的电信号进行归一化处理,并根据对称折叠算法计算光反馈因子和线宽展宽因子;根据相位展开算法进行位移重构。本测量方法利用光反馈自混合干涉,通过EEMD算法对自混合干涉信号进行去噪,可以得到纯净的自混合干涉信号,并结合对称折叠算法计算光反馈因子和线宽展宽因子,最后通过相位展开算法进行位移重构,测量误差小,实现精密长度测量,精度可达nm级别。
搜索关键词: 一种 激光 混合 位移 精密 测量方法 系统
【主权项】:
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