[发明专利]一种双色焦平面探测器的制作方法及双色图像获取方法有效
申请号: | 202010358802.5 | 申请日: | 2020-04-29 |
公开(公告)号: | CN111653630B | 公开(公告)日: | 2021-08-24 |
发明(设计)人: | 冯斌;李琳;康超 | 申请(专利权)人: | 西北工业大学 |
主分类号: | H01L31/0216 | 分类号: | H01L31/0216;H01L31/101;H01L31/18 |
代理公司: | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 | 代理人: | 尹晓雪 |
地址: | 710072 陕西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种双色焦平面探测器的制作方法及双色图像获取方法,通过在基底上镀制呈梳状周期排布的单色滤光膜形成微滤光片阵列、在焦平面探测器的焦平面上粘贴微滤光片阵列构成双色焦平面探测器、获取双色焦平面探测器直接输出的宽波段图像和第一幅窄波段图像、将宽波段图像和第一幅窄波段图像沿垂直于滤光膜延展方向分别进行两倍放大处理、在全尺寸的宽波段图像中去除全尺寸的第一幅窄波段图像得到全尺寸的第二幅窄波段图像,提出的双色焦平面探测器的制作方法及双色图像获取方法具有制造工艺简单、结构紧凑、集成度高、可快照式成像、成本低的优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 双色焦 平面 探测器 制作方法 图像 获取 方法 | ||
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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