[发明专利]电子设备的破坏性边界值的确定方法及其系统有效
| 申请号： | 202010358936.7 | 申请日： | 2020-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN111581040B | 公开（公告）日： | 2023-04-18 |
| 发明（设计）人： | 陈佳;李华伟;王振超 | 申请（专利权）人： | 杭州迪普科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/24 | 分类号： | G06F11/24 |
| 代理公司： | 北京金讯知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11554 | 代理人： | 黄剑飞 |
| 地址： | 310051 浙江省杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本公开涉及一种电子设备的破坏性边界值的确定方法及其系统。所述方法包括：取每种电子器件的待测试参数的指导上限阈值和指导下限阈值；针对待测试参数，基于所获取的指导上限阈值和指导下限阈值，预设所述电子设备的预置上限阈值和预置下限阈值；选择所述预置上限阈值和预置下限阈值之间的起始参数值，在所述起始参数值的基础上按照预定步长逐步增加或减少测试参数，测试所述电子设备工作状态，最终获取所述电子设备的测试破坏性上边界值或测试破坏性下边界值；以及将测试破坏性上边界值和预置上限阈值的平均值确定为所述电子设备的破坏性边界值上限值以及将测试破坏性下边界值和预置下限阈值的平均值确定为所述电子设备的破坏性边界值下限值。 | ||
| 搜索关键词： | 电子设备 破坏性 边界 确定 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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