[发明专利]用于搭载IC测试仪的霍尔传感器测试方法有效
| 申请号： | 202010359794.6 | 申请日： | 2020-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN111487523B | 公开（公告）日： | 2021-04-06 |
| 发明（设计）人： | 施明明;孔令丰;齐和峰;陈元钊;何芹 | 申请（专利权）人： | 江苏七维测试技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01D5/14;G01R1/04 |
| 代理公司： | 江阴市轻舟专利代理事务所(普通合伙) 32380 | 代理人： | 曹键 |
| 地址： | 214000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于搭载IC测试仪的霍尔传感器测试方法，用已检定过的磁场强度测试仪对传感器测试座在亥姆霍兹线圈中固定位置的磁场强度H与线圈输入电流I的关系进行标定；将标定好的数组输入到IC测试仪中；用IC测试仪控制步进电机，从而控制传感器测试座进入亥姆霍兹线圈中的固定位置；当传感器测试座进入到亥姆霍兹线圈中的固定位置后，IC测试仪开始对亥姆霍兹线圈施加电流I,进而控制磁场强度H；IC测试仪在控制磁场强度H的同时，通过连接线接头对安装在传感器测试座上的器件进行测试。本发明的一种用于搭载IC测试仪的霍尔传感器测试装置能够搭载在IC测试仪上对霍尔传感器进行检测，实现相关的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 搭载 ic 测试仪 霍尔 传感器 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏七维测试技术有限公司，未经江苏七维测试技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010359794.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
