[发明专利]带静电自保护的MOS管结构在审

专利信息
申请号: 202010359958.5 申请日: 2020-04-30
公开(公告)号: CN111446240A 公开(公告)日: 2020-07-24
发明(设计)人: 苏庆 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L27/088
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 焦健
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种带静电自保护的MOS管结构,通过场氧隔离沟槽将源区有源区或者漏区有源区划分为彼此错开互相咬合的特定形状,将从栅极到源区接触孔或者从栅极到漏区有源区接触孔的路径走向从传统的直线改为曲线走向,实现在较小的源区有源区和漏区有源区面积下增加从栅极到源区有源区接触孔以及漏区有源区接触孔之间的有效路径,或者是在相同的从栅极到源区有源区接触孔以及从栅极到漏区有源区之间的有效路径下减小漏区有源区、源区有源区的面积。
搜索关键词: 静电 保护 mos 结构
【主权项】:
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