[发明专利]零部件、等离子体反应装置及零部件加工方法在审

专利信息
申请号: 202010361663.1 申请日: 2020-04-30
公开(公告)号: CN113594014A 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 段蛟;孙祥;陈星建 申请(专利权)人: 中微半导体设备(上海)股份有限公司
主分类号: H01J37/32 分类号: H01J37/32;C25F3/02
代理公司: 深圳中创智财知识产权代理有限公司 44553 代理人: 文言;田宇
地址: 200120 上海市浦东新*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及半导体技术领域,尤其涉及一种零部件、等离子体反应装置及零部件加工方法。其中,等离子体反应装置包括反应腔,反应腔内为等离子体环境,零部件暴露于所述等离子体环境中;零部件包括衬底和涂覆在衬底表面的耐等离子体涂层,衬底表面设置有若干宽度W1≤30nm、深度H1≤100nm的凹槽,相邻凹槽间形成凸起;耐等离子体涂层覆盖于凹槽的侧壁表面、底部表面和凸起的顶部表面。本发明提供的零部件,通过在衬底的表面涂覆耐等离子体涂层对衬底进行耐等离子体保护,且耐等离子体涂层不易出现开裂、裂纹扩展以及剥落的问题。
搜索关键词: 零部件 等离子体 反应 装置 加工 方法
【主权项】:
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