[发明专利]试样解析系统、试样解析装置以及试样解析方法在审
申请号: | 202010363176.9 | 申请日: | 2020-04-30 |
公开(公告)号: | CN112129792A | 公开(公告)日: | 2020-12-25 |
发明(设计)人: | 铃木桂次郎;冈本康之 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01N23/20 | 分类号: | G01N23/20;G06F16/51 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种试样解析系统、试样解析装置以及试样解析方法。物质信息DB(50)存储预先被制作成数据库的多个物质的信息。关联物质名称DB(60)存储规定的类型(石棉、粘土矿物等)中包括的多个关联物质的名称。处理装置(30)构成为:从物质信息DB(50)中存储的多个物质的信息中提取具有关联物质名称DB(60)中存储的关联物质的名称的物质的信息,通过将X射线衍射装置(10)的测定结果与被提取的该物质信息进行对照,来进行试样的定性分析。 | ||
搜索关键词: | 试样 解析 系统 装置 以及 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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