[发明专利]基于饱和能量非均匀分布的Xe分子探针浓度定量测量方法有效

专利信息
申请号: 202010364329.1 申请日: 2020-04-30
公开(公告)号: CN111505039B 公开(公告)日: 2022-03-15
发明(设计)人: 周欣;蒋卫平;娄昕;郭茜旎;孙献平;叶朝辉 申请(专利权)人: 中国科学院精密测量科学与技术创新研究院
主分类号: G01N24/08 分类号: G01N24/08
代理公司: 武汉宇晨专利事务所(普通合伙) 42001 代理人: 王敏锋
地址: 430071 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了基于饱和能量非均匀分布(Saturation Energy Nonuniform Distributed,SEND)的Xe分子探针浓度快速定量测量新方法,包括以下步骤:配制已知浓度Xe分子探针溶液,测量Xe分子探针与Xe的结合常数K;配制待测浓度Xe分子探针溶液,分别进行频率偏置为Δωrf和‑Δωrf的SEND脉冲序列实验,采样获得待测溶液溶解态Xe信号强度S1和S2;计算SEND对比效果SENDR;根据公式计算待测溶液中Xe分子探针浓度。本方法采用饱和能量非均匀分布方法,可以快速测量溶液中Xe分子探针的浓度。
搜索关键词: 基于 饱和 能量 均匀分布 xe 分子 探针 浓度 定量 测量方法
【主权项】:
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