[发明专利]颅颌面状态的分析方法及装置、电子设备有效
申请号: | 202010366369.X | 申请日: | 2020-04-30 |
公开(公告)号: | CN111528889B | 公开(公告)日: | 2021-05-18 |
发明(设计)人: | 姜喜玲;张丽敏 | 申请(专利权)人: | 赤峰学院附属医院 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03;A61B6/14;A61B5/00 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 董文倩 |
地址: | 024000 内蒙古*** | 国省代码: | 内蒙古;15 |
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摘要: | 本发明公开了一种颅颌面状态的分析方法及装置、电子设备。其中,该分析方法包括:获取目标用户的头部颅颌面的目标序列图像;将目标序列图像合成计算机断层扫描CT图像,得到合成CT图像;在目标序列图像及合成CT图像中建立参考坐标系,其中,参考坐标系符合用户头部一体化与模块化特征;以参考坐标系为参照,在目标序列图像中对颅颌面软组织进行三维分析,以得到头部颅颌面的软组织信息;以参考坐标系为参照,在合成CT图像中对颅颌面硬组织进行三维分析,以得到头部颅颌面的硬组织信息;基于头部颅颌面的软组织信息和硬组织信息,分析目标用户的头部颅颌面是否出现异常变形。 | ||
搜索关键词: | 颅颌面 状态 分析 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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