[发明专利]一种定量表征氧化锌电阻片微观晶粒尺寸分布均匀性的方法在审
| 申请号： | 202010379103.9 | 申请日： | 2020-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN111766261A | 公开（公告）日： | 2020-10-13 |
| 发明（设计）人： | 刘文凤;张磊;李盛涛;李建英 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01N23/2251 | 分类号： | G01N23/2251;G01N1/32;G01N1/34;G01B15/00 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 王艾华 |
| 地址： | 710049 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种定量表征氧化锌电阻片微观晶粒尺寸分布均匀性的方法，对氧化锌电阻片表面抛光、热腐、喷金等处理，制作为目标试样；对目标试样采用扫描电子显微观测并获得显微形貌照片；从显微照片提取晶粒尺寸数据，采用对数正态分布拟合晶粒尺寸分布，进而计算分布不均匀系数用于定量表征晶粒尺寸分布不均匀程度。本发明的表征方法简单易行，结果可靠，相较于以往人为主观(肉眼)评估带来的误差，能够更为定量、有效评估氧化锌电阻片微观晶粒分布均匀性，为大通流能力的氧化锌电阻片的研发提供了重要的参考价值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 定量 表征 氧化锌 电阻 微观 晶粒 尺寸 分布 均匀 方法 | ||
【主权项】：
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