[发明专利]一种获取设计良率的方法及装置有效

专利信息
申请号: 202010381928.4 申请日: 2020-05-08
公开(公告)号: CN111553611B 公开(公告)日: 2023-05-23
发明(设计)人: 吴玉平;陈岚 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: G06Q10/0639 分类号: G06Q10/0639;G06F30/20
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王娇娇
地址: 100029 北京市朝阳*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种获取设计良率的方法及装置,通过放大标准偏差快速定位可能不符合性能指标的第一类输入参数空间,基于第一类输入参数空间所对应的抽样点和对应的性能测量值,获得第一类函数,基于设计对象的各个输入随机参数的原始分布的标准偏差,进行随机抽样得到第二类抽样点,对落在第一类输入参数空间内的第二类抽样点利用第一类函数得到性能估算值,并确定不符合性能指标的第三类抽样点,根据第三类抽样点的数量和第二类抽样点的数量,计算设计对象在对应的整体随机参数空间内符合性能指标的设计良率,实现提高获取符合性能指标的设计良率的效率。
搜索关键词: 一种 获取 设计 方法 装置
【主权项】:
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