[发明专利]一种高分子材料弯曲角度形状记忆测量装置和方法在审
| 申请号： | 202010390028.6 | 申请日： | 2020-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN111504803A | 公开（公告）日： | 2020-08-07 |
| 发明（设计）人： | 赵丹阳;李红霞;王永杰;史伟良 | 申请（专利权）人： | 大连理工大学 |
| 主分类号： | G01N3/20 | 分类号： | G01N3/20;G01N3/06;G01N25/00 |
| 代理公司： | 大连理工大学专利中心 21200 | 代理人： | 关慧贞 |
| 地址： | 116024 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明一种高分子材料弯曲角度形状记忆测量装置和方法属于高分子材料领域，涉及一种便携式快速测量高分子材料弯曲角度形状记忆性能的装置和测试方法。测量装置由中间弯曲块、角度测量板、上转动块、手柄螺钉、右手柄、实验样条、转轴、紧固螺钉、下固定块和左手柄组成。测试方法中，在测量装置上安装形状记忆高分子材料实验样条，使用角度测量板记录实验样条的初始角度，然后浸没于热水中，推动右手柄，使得实验样条弯曲变形，得到热形变角度。取出后，放置于室温下的冷水中，通过角度测量板获得实验样条形状固定后形变角度。测量装置结构简单，体积小，便于携带。测试方法操作方便，稳定性好，可用于热致型形状记忆高分子材料测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高分子材料 弯曲 角度 形状 记忆 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于大连理工大学，未经大连理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010390028.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：提高客单价的方法及装置
- 下一篇：双层扰流式挡雪墙
