[发明专利]一种镀层平整度测量头在审
申请号: | 202010393073.7 | 申请日: | 2020-05-11 |
公开(公告)号: | CN111457879A | 公开(公告)日: | 2020-07-28 |
发明(设计)人: | 朱卫民;李蔚森 | 申请(专利权)人: | 马鞍山恒瑞测量设备有限公司 |
主分类号: | G01B21/30 | 分类号: | G01B21/30;G01B5/00 |
代理公司: | 北京纽盟知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11456 | 代理人: | 许玉顺 |
地址: | 243000 安徽省马鞍*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开了一种镀层平整度测量头,包括底座和测量装置,所述测量装置包括护套,所述护套内设有基体,所述基体上方设有弹簧座,所述弹簧座上固定有复位弹簧,所述复位弹簧上设有导向板,所述导向板上端设有位移传感器,所述位移传感器通过支架固定在护套内部,所述位移传感器通过信号线连接着电源接头,所述基体下方连接着测杆座,所述护套底端设有测杆,所述测杆穿过护套底端的通孔与护套内的测杆座相连接,所述测杆上连接着测量头,所述测量头呈长方形设计,所述测量头上安装有多个方形凸起的触头,本发明结构简单,设计新颖,能够全方位的对镀层表面进行测量,特设的多个触头能够精准的测量到镀层的哪一块不平整。 | ||
搜索关键词: | 一种 镀层 平整 测量 | ||
【主权项】:
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