[发明专利]一种镀层平整度测量头在审

专利信息
申请号: 202010393073.7 申请日: 2020-05-11
公开(公告)号: CN111457879A 公开(公告)日: 2020-07-28
发明(设计)人: 朱卫民;李蔚森 申请(专利权)人: 马鞍山恒瑞测量设备有限公司
主分类号: G01B21/30 分类号: G01B21/30;G01B5/00
代理公司: 北京纽盟知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11456 代理人: 许玉顺
地址: 243000 安徽省马鞍*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种镀层平整度测量头,包括底座和测量装置,所述测量装置包括护套,所述护套内设有基体,所述基体上方设有弹簧座,所述弹簧座上固定有复位弹簧,所述复位弹簧上设有导向板,所述导向板上端设有位移传感器,所述位移传感器通过支架固定在护套内部,所述位移传感器通过信号线连接着电源接头,所述基体下方连接着测杆座,所述护套底端设有测杆,所述测杆穿过护套底端的通孔与护套内的测杆座相连接,所述测杆上连接着测量头,所述测量头呈长方形设计,所述测量头上安装有多个方形凸起的触头,本发明结构简单,设计新颖,能够全方位的对镀层表面进行测量,特设的多个触头能够精准的测量到镀层的哪一块不平整。
搜索关键词: 一种 镀层 平整 测量
【主权项】:
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