[发明专利]一种光学系统杂光抑制角室内测试系统有效
申请号: | 202010405987.0 | 申请日: | 2020-05-14 |
公开(公告)号: | CN111521378B | 公开(公告)日: | 2022-07-08 |
发明(设计)人: | 刘石 | 申请(专利权)人: | 长春理工大学 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 130022 吉林省*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 本发明公布了一种光学系统杂光抑制角室内测试系统,由杂光室、杂光模拟器、杂光窗口、光学暗室、工况模拟器、环境杂光抑制器和多维调整机构组成;其中,杂光模拟器发出的光经过杂光窗口进入被测光学系统,工况模拟器与被测光学系统同轴,发出的工况模拟信息供被测光学系统接收。通过多维调整机构改变被测光学系统与杂光模拟器之间的光轴夹角α,从而改变杂光对被测光学系统的影响,进而实现被测光学系统杂光抑制角的室内测试。 | ||
搜索关键词: | 一种 光学系统 抑制 室内 测试 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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