[发明专利]一种颗粒分析分选装置及方法在审
| 申请号： | 202010406154.6 | 申请日： | 2020-05-13 |
| 公开（公告）号： | CN111521548A | 公开（公告）日： | 2020-08-11 |
| 发明（设计）人： | 裴万生 | 申请（专利权）人： | 洹仪科技（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14 |
| 代理公司： | 上海大邦律师事务所 31252 | 代理人： | 孙成 |
| 地址： | 201499 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供了一种颗粒分析分选装置及方法，其中所述装置包括激光器、液流室、第四探测器、散射光探测单元和分选板；所述激光器用于发射至少一种激光，所述激光照射到所述液流室中的颗粒上；所述液流室用于限制所述颗粒的流动，使得所述颗粒依次受到所述激光的照射产生光信号，所述光信号包括荧光信号和散射光信号；所述散射光探测单元用于分析所述散射光信号；所述第四探测器用于检测所述光信号的第三部分，获取所述颗粒的形貌图像；所述分选板用于利用所述颗粒的特征将所述颗粒放入指定位置。本申请实施例提供的一种颗粒分析分选装置及方法，能够实时、高效地分析分选颗粒。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 颗粒 分析 分选 装置 方法 | ||
【主权项】：
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