[发明专利]一种基于光场相机的透明或半透明介质缺陷检测系统及方法在审

专利信息
申请号: 202010412397.0 申请日: 2020-05-15
公开(公告)号: CN112824881A 公开(公告)日: 2021-05-21
发明(设计)人: 李浩天 申请(专利权)人: 奕目(上海)科技有限公司
主分类号: G01N21/958 分类号: G01N21/958;G01N21/95;G01N21/88;G01B11/24;G06T7/00
代理公司: 上海段和段律师事务所 31334 代理人: 李佳俊
地址: 201109 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种透明或半透明介质缺陷检测系统,包括,待检测的透明或半透明介质,至少一个光源,用于将光线照射至所述的透明或半透明介质,光场相机,拍摄获取所述透明或半透明介质的图像,用以检测出所述的透明或半透明介质存在的三维缺陷,该检测的步骤包括:用光圈匹配后的光场相机拍摄多张散焦柔光板,进行光场白图像校准,并且完成微透镜中心校准;进行光场相机尺度校准,搭设适合角度的光源;用光场相机拍摄被测介质缺陷区域并处理得到多视角及深度图像,基于多视角图像中缺陷的形状及颜色,剔除深度图中非缺陷点,最终获得所述的透明或半透明介质缺陷的三维信息。
搜索关键词: 一种 基于 相机 透明 半透明 介质 缺陷 检测 系统 方法
【主权项】:
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