[发明专利]一种精密小孔三维测量方法及装置在审
| 申请号： | 202010413210.9 | 申请日： | 2020-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN112747692A | 公开（公告）日： | 2021-05-04 |
| 发明（设计）人： | 丁俊飞;李浩天 | 申请（专利权）人： | 奕目（上海）科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25 |
| 代理公司： | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人： | 李佳俊 |
| 地址： | 201109 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种精密小孔三维测量方法，设置至少一台光场相机，用于拍摄所述待测精密小孔区域图像；设置合适光源照射被测精密小孔区域，以至于精密小孔能被光场相机良好成像；通过所述光场相机拍摄被测精密三维小孔区域，获得所述待测精密小孔区域图像，并进行光场多视角渲染及深度计算，获得光场多视角图像及深度图像；根据光场多视角图像及深度图像对被测精密小孔进行位置识别和定位；根据光场多视角图像及深度图像，得到被测精密小孔的三维几何参数。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 精密 小孔 三维 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
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