[发明专利]ADC芯片测试电路和设备在审
| 申请号： | 202010413630.7 | 申请日： | 2020-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN111579963A | 公开（公告）日： | 2020-08-25 |
| 发明（设计）人： | 刘彬;赵希军;李毅;梁善儒;李俊锋 | 申请（专利权）人： | 珠海南方集成电路设计服务中心 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 郑晨鸣 |
| 地址： | 519085 广东省珠海市唐*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种ADC芯片测试电路和设备，包括计数器；数据比较模块，分别与计数器和待测芯片连接，控制端连接有第一预处理模块，第一预处理模块与计数器连接，数据比较模块连接有第二预处理模块，第一预处理模块用于检测数字码的极值并给所述数据比较模块发送补位使能信号，第二预处理模块用于保持数据比较模块的输出信号稳定；积分控制模块，与第二预处理模块连接；DAC模块，与计数器连接；幅值衰减模块，分别与积分控制模块和DAC模块连接，输出端用于与待测芯片的输入端连接；时钟模块，分别与第二预处理模块、DAC模块和待测芯片的时钟信号端连接。利用成本较低的器件进行ADC芯片测试，降低测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | adc 芯片 测试 电路 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于珠海南方集成电路设计服务中心，未经珠海南方集成电路设计服务中心许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010413630.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
