[发明专利]用于对非接触姿态测量设备进行标定的标定系统及方法有效
| 申请号： | 202010414136.2 | 申请日： | 2020-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN111504344B | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 杨君;习先强 | 申请（专利权）人： | 天津时空经纬测控技术有限公司 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00;G01C1/00 |
| 代理公司： | 北京万思博知识产权代理有限公司 11694 | 代理人： | 刘冀 |
| 地址： | 300380 天津市西青区中*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种用于对非接触姿态测量设备进行标定的标定系统及方法。其中，非接触姿态测量设备包括用于测量与被测物体的姿态相关的姿态信息的光学准直装置和用于测量与光学准直装置的姿态相关的姿态信息的姿态测量装置，并且标定系统包括：姿态调整设备，用于调整非接触姿态测量设备的姿态；反射部件，设置有朝向光学准直装置的参考反射面；以及计算设备，与光学准直装置以及姿态测量装置连接，配置用于：根据从光学准直装置接收的第一测量信息确定光学准直装置的第一姿态信息；根据从姿态测量装置接收的第二测量信息确定光学准直装置的第二姿态信息；以及根据第一姿态信息和第二姿态信息，对非接触姿态测量设备进行标定。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 接触 姿态 测量 设备 进行 标定 系统 方法 | ||
【主权项】：
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