[发明专利]基于激光测距的平面物体偏转角度测量方法在审

专利信息
申请号: 202010414139.6 申请日: 2020-05-15
公开(公告)号: CN111551132A 公开(公告)日: 2020-08-18
发明(设计)人: 余佳威;向伟航;史洪宾;范磊;许磊;陈雷;辜源;常万旭 申请(专利权)人: 成都飞机工业(集团)有限责任公司
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26;G01B11/16
代理公司: 成都君合集专利代理事务所(普通合伙) 51228 代理人: 贾林
地址: 610092 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及平面物体偏转角度测量技术领域,公开了基于激光测距的平面物体偏转角度测量方法,通过光源对物体绕轴偏转前和绕轴偏转前后照射,并分别结合光源的平面坐标,得到物体偏转前参考平面的方程A和物体绕轴偏转后参考平面的方程B,通过方程A和方程B获得两个参考平面的夹角,夹角的角度为平面物品的实际偏转角度。本发明的有益效果是:本发明用于测量平面物体绕轴运动后的偏转角度,实现无接触式测量,避免了人为因素和器件磨损、形变引起的测量误差,提高测量精度。
搜索关键词: 基于 激光 测距 平面 物体 偏转 角度 测量方法
【主权项】:
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