[发明专利]半导体结构的制作方法及其平坦化制作工艺在审
申请号: | 202010418410.3 | 申请日: | 2020-05-18 |
公开(公告)号: | CN113690135A | 公开(公告)日: | 2021-11-23 |
发明(设计)人: | 李翔;陈鼎龙 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/324 | 分类号: | H01L21/324;C30B29/06;C30B33/10 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开一种半导体结构的制作方法及其平坦化制作工艺,其中该半导体结构的制作方法包括:提供具有第一表面的基板;形成沟槽于第一表面上,沟槽包含底面及侧壁;利用高纯度氩气或高纯度氢气对具有沟槽的基板进行退火处理,以平坦化底面及侧壁;共形设置复合材料层以覆盖第一表面、底面及侧壁;设置多晶硅材料层于沟槽内;移除第一表面上的复合材料层;形成多层金属内连线结构于第一表面及多晶硅材料层上,其中,多层金属内连线结构包含微机电系统框架结构及多个通孔;移除多晶硅材料层及复合材料层;以及利用包含有惰性气体及氢气的等离子体,对沟槽进行等离子体处理,使底面及侧壁平坦化。 | ||
搜索关键词: | 半导体 结构 制作方法 及其 平坦 制作 工艺 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造