[发明专利]一种纳米线状狄拉克半金属砷化镉及其制备方法在审
申请号: | 202010418570.8 | 申请日: | 2020-05-18 |
公开(公告)号: | CN111554567A | 公开(公告)日: | 2020-08-18 |
发明(设计)人: | 韦欣;陈岩;徐云;李健;宋国峰 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;B82Y30/00;B82Y40/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种纳米线状狄拉克半金属砷化镉及其制备方法,方法包括:将源物质置于指定气体中进行加热,使所述源物质蒸发,所述源物质包括砷化镉;将所述指定气体的流速调整至预定流速,以通过所述指定气体将蒸发出的所述源物质输运到与所述源物质相距预定距离的衬底上;其中,所述衬底上覆盖有多个相互分离的金颗粒,所述金颗粒通过在衬底上沉积预定厚度的金薄膜并进行退火后得到;金颗粒呈岛状,尺寸为亚微米或微米级别;对所述源物质进行降温,以使源物质在金颗粒上成核、结晶并生长,得到纳米线状狄拉克半金属砷化镉。通过本发明提供的方法,可以控制纳米线状狄拉克半金属砷化镉的直径和长度等尺寸,且制备方法简单可靠,成本低廉。 | ||
搜索关键词: | 一种 纳米 线状 狄拉克半 金属 砷化镉 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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