[发明专利]一种阵列基板及其制作方法在审

专利信息
申请号: 202010425170.X 申请日: 2020-05-19
公开(公告)号: CN111627927A 公开(公告)日: 2020-09-04
发明(设计)人: 张伟彬 申请(专利权)人: 武汉华星光电半导体显示技术有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L27/32;H01L21/84
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 吕姝娟
地址: 430079 湖北省武汉市东湖新技术*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本申请提供一种阵列基板及其制备方法,所述阵列基板包括:层叠设置的衬底、缓冲层、栅极金属层、栅极绝缘层、有源层、层间介质层,源漏极层,其中,有源层图案化形成沟道区,源漏极层包括层叠设置的第一源漏极层和第二源漏极层,第一源漏极层在与有源层接触的区域形成掺杂区,第一源漏极层的材料与有源层的材料相同,均为半导体材料,但离子掺杂的浓度不同。本申请通过先对半导体材料进行离子掺杂成膜,然后对半导体层进行退火处理,形成有源层的沟道区和第一源漏极层,这样就节约了一次离子掺杂步骤和半导体退火步骤,同时第一源漏极层直接形成有源层的掺杂区,增大了源漏极层与有源层的接触面积,从而减小了源漏极层的电阻。
搜索关键词: 一种 阵列 及其 制作方法
【主权项】:
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