[发明专利]一种红外半导体发光元件散热性能测试方法有效
| 申请号： | 202010431671.9 | 申请日： | 2020-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN111473955B | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 陈国辉 | 申请（专利权）人： | 星紫（上海）新材料技术开发有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00;G01N25/20 |
| 代理公司： | 上海塔科专利代理事务所(普通合伙) 31380 | 代理人： | 张世荣 |
| 地址： | 201100 上海市闵*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种红外半导体发光元件散热性能测试方法，属于半导体散热性能测试领域，一种红外半导体发光元件散热性能测试方法，通过多个呈圆周状分布且高度不同的支点测柱以及多光点罩的设置，能在不聚集热量的情况下，对半导体发光元件附近不同距离的环境温升变化进行测量，使得对于半导体发光元件的散热性能的测试结果更加准确，同时随着半导体发光元件不断散发的热量，多光点罩上的多个光点球逐渐被点亮，通过记录多个光点球被点亮的顺序，可以反映半导体发光元件产生的热量向外散发时的运行的大致轨迹，从而在测试后，可以根据散热效果最好的轨迹调整半导体发光元件的安装角度，从而使得本半导体发光元件在使用时，散热性能更佳。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 红外 半导体 发光 元件 散热 性能 测试 方法 | ||
【主权项】：
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