[发明专利]用于非破坏性检查粘合线和孔隙率的X射线散射方法和系统在审
| 申请号： | 202010433059.5 | 申请日： | 2020-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN112098445A | 公开（公告）日： | 2020-12-18 |
| 发明（设计）人： | M·萨法伊 | 申请（专利权）人： | 波音公司 |
| 主分类号： | G01N23/201 | 分类号： | G01N23/201;G01N23/20008 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 张全信 |
| 地址： | 美国伊*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了用于非破坏性检查粘合线的非破坏性检查方法、系统和装置，所述粘合线包括存在于复合基材中和复合基材中的粘合剂材料层中的粘合线，所述方法、系统和装置包括小角度X射线散射阵列。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 破坏性 检查 粘合 孔隙率 射线 散射 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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