[发明专利]一种共同缺陷判定方法及判定装置有效
| 申请号： | 202010437253.0 | 申请日： | 2020-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN111538175B | 公开（公告）日： | 2022-09-27 |
| 发明（设计）人： | 叶巧云 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 刁文魁 |
| 地址： | 518132 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种共同缺陷判定方法及判定装置，所述共同缺陷判定方法包括步骤：识别缺陷、缺陷差异比对以及结果判定，缺陷差异比对包括位置差异比对、灰度差异比对以及形态差异比对，判定发生共同缺陷需同时满足位置差异要求、灰度差异要求以及形态差异要求，该方法具有共同缺陷识别准确率高、快速的优点，有效避免“假报”现象的出现，从而提升生产线的产能，节省人力。所述的判定装置包括识别单元、存储单元和处理单元，识别单元、存储单元和处理单元之间通讯连接。所述的判定装置采用所述的共同缺陷判定方法，对液晶显示板的生产过程进行质量监控，及时拦截和判断共同缺陷，提高产品良品率和生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 共同 缺陷 判定 方法 装置 | ||
【主权项】：
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