[发明专利]纳米晶材料电性能检测装置及纳米晶材料检测系统在审
| 申请号： | 202010440825.0 | 申请日： | 2020-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN111487482A | 公开（公告）日： | 2020-08-04 |
| 发明（设计）人： | 任潇;徐一华;魏子健;周明;蒙海;曹葵康;蔡雄飞 | 申请（专利权）人： | 苏州天准科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/22 | 分类号： | G01R29/22 |
| 代理公司： | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人： | 徐颖聪 |
| 地址： | 215000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供种一种纳米晶材料电性能检测装置及纳米晶材料检测系统，其中，纳米晶材料电性能检测装置，包括：升降平台，所述升降平台用于承载纳米晶材料；驱动装置，所述驱动装置与所述升降平台相连，用于驱动所述升降平台进行升降运动；电检测单元，所述电检测单元设置在所述升降平台的上方；压力检测装置，所述压力检测装置连接所述电检测单元，用于检测所述电检测单元与纳米晶材料之间的压力，所述电检测单元用于检测在所述压力状态下的所述纳米晶材料的电性能。根据本发明的纳米晶材料电性能检测装置，能够自动化且快速稳定地对纳米晶材料的电性能进行检测，提高检测效率和准确性，且减少纳米晶材料报废。 | ||
| 搜索关键词： | 纳米 材料 性能 检测 装置 系统 | ||
【主权项】：
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