[发明专利]封装薄膜水汽透过率的测试方法有效
| 申请号： | 202010450144.2 | 申请日： | 2020-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN111458277B | 公开（公告）日： | 2021-02-12 |
| 发明（设计）人： | 段羽;李泽;王振宇;王浩然;赵文卓;陈平 | 申请（专利权）人： | 吉林大学 |
| 主分类号： | G01N15/08 | 分类号： | G01N15/08 |
| 代理公司： | 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218 | 代理人： | 高一明;郭婷 |
| 地址： | 130012 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种封装薄膜水汽透过率的测试方法，包括如下步骤：S1、寻找钙薄膜上所有的缺陷点；S2、根据缺陷点的位置将所述钙薄膜划分为无缺陷区域和有缺陷区域，并根据钙薄膜的尺寸确定无缺陷区域的电阻表达式与有缺陷区域去掉缺陷点的电阻表达式，联立获得钙薄膜的总电阻表达式；S3、测量所述钙薄膜在两个时刻的真实电阻值，并通过钙薄膜的总电阻表达式计算得到钙薄膜在两个时刻的实时厚度；S4、通过水汽透过率的公式计算得到全部缺陷点消除后的WVTR数值。本发明能够消除缺陷点的影响计算封装薄膜的WVTR值，使测试结果更加精准。 | ||
| 搜索关键词： | 封装 薄膜 水汽 透过 测试 方法 | ||
【主权项】：
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