[发明专利]一种功率半导体器件的功率循环测试系统及方法有效
| 申请号： | 202010462516.3 | 申请日： | 2020-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN111537860B | 公开（公告）日： | 2023-01-20 |
| 发明（设计）人： | 王浩然;王圣明;周法杰;王鼎奕 | 申请（专利权）人： | 合肥恒钧检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京知联天下知识产权代理事务所(普通合伙) 11594 | 代理人： | 张陆军;张迎新 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥市高新*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明属于电子电力器件可靠性测试领域，并公开了一种被测器件的功率循环测试系统及其方法，所述测试系统包括电源模块、驱动模块、测试模块。所述测试模块，用于安装一个或多个所述被测器件；所述电源模块，用于提供所述被测器件的电压电流；所述驱动模块，用于控制所述被测器件进行通断。本发明能够在测试过程中使被测器件有通断过程，更加符合真实反应被测器件的应用寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 功率 半导体器件 循环 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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