[发明专利]一种片上系统芯片的测试方法及系统在审
| 申请号： | 202010462607.7 | 申请日： | 2020-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN111475364A | 公开（公告）日： | 2020-07-31 |
| 发明（设计）人： | 钱斌;徐琴;刘业凡;孙乾程 | 申请（专利权）人： | 中电海康无锡科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/00;G06F11/26 |
| 代理公司： | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 | 代理人： | 殷红梅;陈丽丽 |
| 地址： | 214135 江苏省无锡市新吴区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及芯片测试技术领域，具体公开了一种片上系统芯片的测试方法，其中，包括：接收上位机的测试开始指令；根据上位机的测试开始指令对待测试芯片进行修调测试；记录所述待测试芯片的修调测试结果；将所述修调测试结果反馈至所述上位机；接收所述上位机的测试结束指令。本发明还公开了一种片上系统芯片的测试系统。本发明提供的片上系统芯片的测试方法不仅可以在待测试芯片的量产测试阶段关键参数的测试修调，还可以在待测试芯片的设计阶段，实现对其在FPGA的功能验证，从而确保芯片测试模式以及DFT等测试项功能的设计正确无误。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 系统 芯片 测试 方法 | ||
【主权项】：
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